在可靠性測(cè)試中，冷熱沖擊試驗(yàn)被譽(yù)為“快速致命測(cè)試"，可在短時(shí)間內(nèi)暴露產(chǎn)品潛在缺陷，如焊點(diǎn)裂紋、結(jié)構(gòu)開裂、封裝失效等。

而設(shè)備結(jié)構(gòu)，是冷熱沖擊試驗(yàn)效果的核心變量。目前行業(yè)中常見結(jié)構(gòu)有兩種：

兩箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱；三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱

許多客戶在設(shè)備選型時(shí)都會(huì)問：

“三箱是不是更先進(jìn)？"“標(biāo)準(zhǔn)有沒有規(guī)定轉(zhuǎn)換時(shí)間？"“我這個(gè)產(chǎn)品到底適合哪一種？"

本文將從標(biāo)準(zhǔn)定義、設(shè)備結(jié)構(gòu)、技術(shù)參數(shù)與應(yīng)用行業(yè)四個(gè)方面，全面解讀這兩種結(jié)構(gòu)的差異，并結(jié)合 國際標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)容（GB/T、IEC、MIL-STD）給出選型建議。

一.冷熱沖擊試驗(yàn)的標(biāo)準(zhǔn)定義

冷熱沖擊試驗(yàn)屬于《GB/T 2423.22-2012》《IEC 60068-2-14:2009》所定義的溫度變化試驗(yàn)（Test N），分為：

Test Na：規(guī)定轉(zhuǎn)換時(shí)間的快速溫度變化；Test Nb：規(guī)定變化速率的溫度變化

其核心技術(shù)動(dòng)作包括：

高溫/低溫兩個(gè)溫區(qū)；

快速完成溫區(qū)之間的切換（transfer）；在各溫區(qū)保持足夠時(shí)間（exposure）以完成應(yīng)力加載。

二.標(biāo)準(zhǔn)對(duì)轉(zhuǎn)換時(shí)間 t? 與暴露時(shí)間 t? 的定義

?? 暴露時(shí)間（t?）：

根據(jù) IEC 60068-2-14:2009 第7.2.3節(jié)：

“暴露時(shí)間 t? 應(yīng)結(jié)合試樣熱容量設(shè)定，推薦值包括 15min、30min、1h、2h、3h。"

?? 一般工業(yè)產(chǎn)品以 15~30 分鐘較為常見。

?? 轉(zhuǎn)換時(shí)間（t?）：

IEC 60068-2-14:2009 第7.2.5節(jié)定義：

“t? 指試樣從一個(gè)溫區(qū)轉(zhuǎn)移至另一個(gè)溫區(qū)（適用于兩箱結(jié)構(gòu)），或指單腔中熱/冷氣流切換，移動(dòng)以及在室溫下停留的時(shí)間。"

?? 標(biāo)準(zhǔn)建議t? 不應(yīng)超過 3min。

MIL-STD-883H（Method 1010）對(duì)JUN工微電子器件測(cè)試提出的專用要求：“轉(zhuǎn)換時(shí)間 ≤10s"。但若提籃尺寸過大，轉(zhuǎn)換時(shí)間可能會(huì)超10s。

三.兩種結(jié)構(gòu)工作原理解析

? 兩箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱結(jié)構(gòu)

試樣托盤在高溫與低溫兩個(gè)腔體間上下或左右移動(dòng)，實(shí)現(xiàn)冷熱轉(zhuǎn)換。

兩箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱技術(shù)規(guī)格：

三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱結(jié)構(gòu)

三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱技術(shù)規(guī)格：